Análisis de Difracción de Rayos X (XRD)

Importante: El análisis requiere muestras sólidas con un tamaño mínimo de 1 g y máximo de 10 g. Coordinar previamente la entrega para asegurar compatibilidad con el equipo.

Descubre la estructura de tus materiales con precisión.

El servicio de Análisis de Difracción de Rayos X (XRD) permite identificar la estructura cristalina, composición y fases de muestras sólidas mediante difractometría avanzada.

Se emplean difractómetros de alta precisión, garantizando resultados reproducibles y fiables para investigación académica, control de calidad industrial o desarrollo de materiales.

Ideal para proyectos que requieren interpretación rápida de patrones cristalográficos, identificación de fases y comparación entre resultados experimentales.